표면 거칠기, 파상도 차이점 출처: 코사카 카탈로그 표면 프로파일을 분류하면 P,R,W로 분류 된다. P 프로파일은 필터가 안된 것이고, R 프로파일, 거칠기 (Roughness)은 작은 파장(고주파) 위주로 필터 된 것이고, W 프로파일, 파상도(Waviness)은 큰 파장(저주파) 위주로 필터 된 것이다. 위의 도표의 프로파일 이미지를 참고 .. .....................지식/표면 거칠기 2013.10.10
3차원 형상 측정기 분류 3차원 형상 측정기란? 공간은 1차원(점,X축),2차원(선,Y축),3차원(면,Z축)이 존재한다. 물체의 크기(길이)를 측정하려고 할 때 사용하는 측정기 이다. 2차원 선 길이, 높이,두께를 측정하려고 할 때 자,버니어 캘리퍼스나 마이크로미터를 기본적으로 사용하고 제품의 모양과 길이 에따라 센서.. .....................지식/표면 검사 2013.10.07
금속 성분 분석기 성분 분석 종류 전원소 분석 재질분석 특정성분분석 미지성분분석 금속이란? 쇠나 구리, 금처럼 단단하고 광택이 있는 물질을 통틀어 금속이라 합니다. 금속은 일반적으로 상온에서 고체 상태로 특유의 광택을 띠며, 열 · 전기를 잘 전달하는 물체입니다. (단 수은은 상온에서 액체입니.. .....................지식/성분 검사 2013.09.26
코사카 표면 거칠기 개요 V.Mag: Z축 확대 H.Mag: X축 확대 M.Speed: 측정 속도 Standards: 규격 JIS 일본 ISO: 국제 ASME : 미국 DIN: 독일 Cutoff: 컷오프 컷오프 값이 작을수록 Ra값도 작아진다. 측정 길이가 길수록 컷오프값도 커진다. Filter: 필터 아날로그를 디지털로 바꿀 때 사용하는 회로 Levelling: 프로파일을 수평으로 만들 때 .. .....................지식/표면 거칠기 2013.08.19
비접촉식 측정기 분류 1. 분해능 차이 2. 2차원(X,Y), 3차원(X,Y,Z) 측정 가능 여부 3. 광원 차이 .....................지식/표면 검사 2013.06.05
표면 분석 종류 1. 표면 결정 구조 - Elemental concentration --- AES, XPS, SIMS, ISS, TXRF - 폭 분포도 Spatial distribution --- SAM, SIMS, XPS - 깊이 분포도 Depth distribution --- AES, SIMS, RBS 2. Physics and Chemistry of Surface Species - Electronic state --- XPS, UPS, EELS - 분자 Molecular species --- SIMS, HREELS, LAMMA, SERS - Energetics and Dynamics --- TPD, Atom Scatter.. .....................지식/표면 검사 2013.05.29
[스크랩] 충격시험이란? 충격시험은 고속으로 가해지는 부하에 대한 재료나 제품의 저항력을 시험하는 것이다. 충격시험은 고속으로 시험편을 파괴하는데 흡수된 에너지를 측정하기 위한 것이다. 대부분 하나의 물체가 다른 물체를 비교적 빠른 속도로 때리는 것이 충격이라고 생각한다. 충격시험은 왜 중요한.. .....................지식/금속 검사 2013.03.06
[스크랩] 압축시험이란? 압축시험은 누르는 하중을 받는 재료의 거동을 보는 시험이다. 시편을 누르면서 하중과 변형량을 기록하게 되며 이를 응력 대 변형의 그래프로 나타내며 흔히 S-S 선도 혹은 stress-strain diagram 이라고 부르며 여기서 탄성한계(elastic limit), 비례한도(proportional limit), 항복점(yield point), 항복강.. .....................지식/금속 검사 2013.03.06
재료검사의 종류 인장시험압축시험굽힘시험충격시험경도시험파괴인성시험피로시험크리프시험크리프--피로시험2축피로시험열적--역학적피로시험 .....................지식/금속 검사 2013.03.06
나노 AFM, 접촉식 조도,거칠기(stylus profiler) 측정기 차이점 AFM: 적은 면적,접촉식 거칠기 측정기보다 누르는 힘이 적음,Z축 분해능 0.01nm X축 분해능 0.1nm,액상상태에도 가능 접촉식 거칠기 측정기: 넓은 면적,Z축 분해능 0,1nm,측정재료는 딱딱한 물질 AFM Stylus profiler 측정범위 Z축 12um Z축 600um 측정력(누르는힘) 0.1nN,pN 1uN~500uN 분해능 Z축:0.01nm Z축: 0.1nm .. .....................지식/표면 거칠기 2013.01.31