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나노 AFM, 접촉식 조도,거칠기(stylus profiler) 측정기 차이점

AFM: 적은 면적,접촉식 거칠기 측정기보다 누르는 힘이 적음,Z축 분해능 0.01nm X축 분해능 0.1nm,액상상태에도 가능 접촉식 거칠기 측정기: 넓은 면적,Z축 분해능 0,1nm,측정재료는 딱딱한 물질 AFM Stylus profiler 측정범위 Z축 12um Z축 600um 측정력(누르는힘) 0.1nN,pN 1uN~500uN 분해능 Z축:0.01nm Z축: 0.1nm ..