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박막 두께 측정기
측정 방식
광학 방식인 분광계를 이용하여 박막의 두께를 측정합니다. 비접촉식 두께 측정기 입니다.
측정 재료
투명한 필름, 패턴 없는 PR, ITO, SIO2, Polymide, Cell gaps, TCO, CIGS, Cds, CdTe, Oxides, Nitride 재료의 두께를 측정합니다.
사양
| Measurement Range | 0.5 ㎛ to 400 ㎛ (depending on film type) |
| Measurement Speed | 1-2 sec / point |
| Stage Size | 200 mm x 200 mm (Pole Height : 200 mm) |
| Application Areas | SiO2, PR, Polymer films, Al2O3, ZnO2, Contact lens, Conformal coating, Semiconductor, Display, Healthcare, films, Solarcell, etc. |
| Incident Illumination | 1 - 20 W Tungsten Halogen Lamp |
| Dimensions | 220 x 220 x 70 mm, 5 kg |
두께 측정 결과
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