.....................지식/표면 검사
엘렙소메터 박막 두께 측정 대상
행복해1
2013. 10. 14. 16:52
엘렙소 메터 로 박막 두께 측정 재료
반도체Wafer | Gate산화박막, 질화막 SiO2,SixOy,SiN,SiON,SiNx,Al2O3,SiNxOy,poly-Si,ZnSe, BPSG,TiN Resist의 광학정수(파장분산) |
화합물반도체 | AlxGa(1-x)As 다층막,α-Si |
FPD | 배향막 |
광학박막 | DLC(Diamond Like Carbon),초전도용 박막, 자기Head박막 |
Lithography분야 | g선(436nm),h선(405nm),i선(365nm),KrF(248nm)등의 각 파장에 있어서의 n,k평가 |
출처: 인터넷