By 1 scanning, contour and roughness or waviness are able to be gained모델:DSF500
Z resolution / measuring range 0.0075 μm / 5 mm 0.012 μm / 8 mm Stylus R2 μm / 0.75 mN / 60 ° R25 μm / 10 mN / 25° Analysis item Contour (element, scalar, statistics, tolerance judge)
Roughness (JIS, ISO, DIN, ANSI, BS)
Waviness (JIS)
'...................판매목록 > 형상 검사' 카테고리의 다른 글
금형 표면 윤곽 형상 측정기 (0) | 2010.10.18 |
---|---|
접촉식 나노형상조도측정기 (0) | 2010.10.13 |
조도거칠기형상측정기 팝니다 (0) | 2010.05.04 |
형상측정기 corntracer formtracer fortour EF-150ED (0) | 2010.03.09 |
형상 측정기 스타일러스, 스타일러스 암 (0) | 2009.11.04 |